公告摘要：
中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所X射線形貌像儀重新招標(biāo)澄清或變更公告(1)
招標(biāo)項(xiàng)目編號(hào)：0834-2541SH25A093 項(xiàng)目名稱：中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所X射線形貌像儀 項(xiàng)目名稱(英文)：X-Ray Profilometer 招標(biāo)人：中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 招標(biāo)機(jī)構(gòu)：上海中招招......
