公告摘要：
晶體取向測試儀項(xiàng)目廢標(biāo)公告
公示開始時(shí)間：2025年4月16日 公示結(jié)束時(shí)間：2025年4月21日 一、 項(xiàng)目名稱： 晶體取向測試儀 二、 項(xiàng)目編號： CLF24SX04QY72 三、評標(biāo)情況： 經(jīng)評標(biāo)委員會(huì)評審，所有投標(biāo)人均未通過初步評審，本項(xiàng)目作廢標(biāo)處理。 四、提出異議的渠道和方式......
請前往光速招標(biāo)服務(wù)號APP
進(jìn)行更多操作設(shè)置
海量信息 免費(fèi)訂閱 實(shí)時(shí)推送
微信查看
正文內(nèi)容
公告摘要：
晶體取向測試儀項(xiàng)目廢標(biāo)公告
公示開始時(shí)間：2025年4月16日 公示結(jié)束時(shí)間：2025年4月21日 一、 項(xiàng)目名稱： 晶體取向測試儀 二、 項(xiàng)目編號： CLF24SX04QY72 三、評標(biāo)情況： 經(jīng)評標(biāo)委員會(huì)評審，所有投標(biāo)人均未通過初步評審，本項(xiàng)目作廢標(biāo)處理。 四、提出異議的渠道和方式......
光速快報(bào)
相關(guān)招標(biāo)資訊類網(wǎng)站：
