公告摘要：
芯片高精度掃描測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目第二次流標(biāo)暨第三次招標(biāo)公告(2025-YKQYJC-W1034)
芯片高精度掃描測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目第二次流標(biāo)暨第三次招標(biāo)公告 投標(biāo)文件截止時(shí)間前（2025年7月15日13時(shí)30分），參與本項(xiàng)目的投標(biāo)供應(yīng)商不滿足開(kāi)標(biāo)條件，本項(xiàng)目作流標(biāo)處理。因項(xiàng)目時(shí)間緊迫，現(xiàn)發(fā)布本項(xiàng)目第三次招標(biāo)公告，......
