公告摘要：
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)檢測(cè)系統(tǒng)
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(SEM)檢測(cè)系統(tǒng) 一、項(xiàng)目編號(hào) 0818EB25051261 二、項(xiàng)目名稱 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM）檢測(cè)系統(tǒng) 三、項(xiàng)目終止的原因 遞交投標(biāo)文件供應(yīng)商家數(shù)不足 四、其他補(bǔ)充事宜 采購(gòu)方式：公開招標(biāo) ......
